測厚儀使用及選購指南簡介

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。在做測厚的時(shí)候要注意以下八點(diǎn)：1.在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。2.在測量的時(shí)候要注意，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。　　3在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。4.在測量的時(shí)候要注意試件的曲率對(duì)測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。5.測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測厚法。6.測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)橐话愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。7.在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測量的讀數(shù)。8.在進(jìn)行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭**附著物質(zhì)。　　二、超聲波測厚儀主要功能1、超聲波測厚儀適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度；2、可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的探頭使用；3、具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能,可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動(dòng)修正；4、已知厚度可以反測聲速，以提高測量精度；5、具有單點(diǎn)測厚和掃描測厚兩種測厚工作模式；6、可預(yù)先設(shè)置厚度值上、下限，超出范圍自動(dòng)報(bào)警；7、具有耦合狀態(tài)提示功能；8、有EL背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用；　　9、有剩余電量指示功能，可實(shí)時(shí)顯示電池剩余電量；10、超聲波測厚儀具有自動(dòng)休眠、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)電功能；11、帶有RS232接口，可以方便、快捷地與PC機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)交換和參數(shù)設(shè)定?？梢赃B接到微型打印機(jī)(廠家指定型號(hào))打印測量報(bào)告。12、可選擇配備微機(jī)軟件，具有傳輸測量結(jié)果、測值存儲(chǔ)管理、測值統(tǒng)計(jì)分析、打印測值報(bào)告等豐富功能；13、超聲波測厚儀密封的金屬外殼，小巧、便攜、可靠性高，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動(dòng)、沖擊和電磁干擾；超聲波測厚儀在測量前要做二點(diǎn)校準(zhǔn)和零點(diǎn)校準(zhǔn)，二點(diǎn)校準(zhǔn)就是把標(biāo)準(zhǔn)膜片放在金屬基片上測試，如果在允許誤差就不需要進(jìn)行二點(diǎn)測試，如果誤差很大校準(zhǔn)結(jié)束后在測試標(biāo)準(zhǔn)片，直到顯示的數(shù)據(jù)正常為止。零點(diǎn)校準(zhǔn)就是將機(jī)器打開調(diào)到零點(diǎn)校準(zhǔn)的模式，在被測工件上測試然后完成就可以。

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